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Richard Schubert, F. Braun, J. Gernhardt, F. Hofmeister, F. Leuterer, M. Münich, J.-M. Noterdaeme, F. Wesner, Controlled Fusion and Plasma Physics, Amsterdam, 1990; pp. 1552-1555
Zusammenfassung
Hochfrequenzheizung an Plasmen verlangt nach speziellen Diagnostiken um die Wechselwirkung der Heizwelle mit dem Plasma besser zu verstehen. Von besonderem Interesse ist der Einfluss der Welle auf das Randplasma in unmittelbarer Umgebung der Hochfrequenz-Heizantenne. Ein wichtiger Parameter in diesem Zusammenhang ist die Elektronendichte, die mit Hilfe von Mikrowellenreflektometrie gemessen werden kann. In diesem Konferenzbeitrag beschreiben wir ein schnelles X-Mode-Reflektometer, das an ASDEX installiert wurde. Wir stellen Messungen des Randdichteprofils im Bereich von 1011 cm-3 < ne < 1.5 *1013 vor.
Volltext, in Englisch:
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zuletzt geändert 01.06.2002